Контурограф-профилометр серии ScroM
Surf&Rough 3.0 – это профессиональное программное обеспечение для промышленных измерений шероховатости и контура, с правами на индивидуальную интеллектуальную собственность. Данное ПО оснащено дружественным интерфейсом, мощными и практическими функциями, может выполнять не только анализ контура, но и предоставлять оценку шероховатости поверхности. Предоставляет 76 прикладных инструментов, включая систему создания координат, строительные инструменты, вспомогательные инструменты, маркировку, допуск на форму и расположение, инструменты оценки шероховатости поверхности и т.д. Для измерения целой партии деталей предусмотрен режим ЧПУ, что значительно повышает пользовательскую эффективность измерений. Учитывает особенности различных деталей и предлагает функцию измерения периодичности.
Модель продукции PS561
Параметры контура Диапазон измерения Ось X 0~100 мм
Ось Z 0~450 мм
Ось Z1 ±25 мм
Разрешение Минимальное разрешение 0.001 мкм
Точность измерения Ось X ≤± (0.6+0.015 L) мкм (L, мм)
Линейная точность
Z1
≤± (0.6+0.05 H) мкм (H, мм)
Погрешность
кривизны
 (диаметр)
≤± (1+R/15) мкм (R, мм)
Угловая погрешность
≤±1′
Скорость перемещения Ось X 0~20 мм/с
Ось Z 0~20 мм/с
Скорость сканирования (ось сканирования) 0.05~5 мм/с
Способность преодолевать подъем Уклон на подъеме 77°, уклон на спуске 88°
Прямолинейность (ось сканирования) ≤1 мкм/200 мм
Измерение силы 10~150 мН регулируемое
Параметры шероховатости Диапазон измерения Ra Ось Z0 ±400 мкм или ± 1000 мкм
Тип датчика Безрельсовый
Применимый диапазон
 измерения
Ra 0.1 мкм~Ra 64 мкм
Измерение силы Около 1 мН
Разрешение Ось Z0 Минимальное разрешение 0.001 мкм
Точность измерения Погрешность
 индикации
≤± (5nm+2.5%A) мкм (A, измерение номинального значения Ra,
мкм)
Повторяемость ≤1 нм
Скорость сканирования 0.05~0.5мм/с
Остаточный шум /
 остаточный контур
≤0.005 мкм
Параметры измерения Шероховатость R: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax, Rpm,tp,
Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ;
Шероховатость середины: Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;
Параметры контура P: Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;
Параметры Motif: R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte
Параметры волнистости контура W: Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc, Wmr,Wpc,Wc;
Волновой фильтр Волновой фильтр Гаусса, волновой фильтр 2RC, волновой фильтр нулевой фазы
Длина отбора 0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0, 25 мм (опционально)
Длина оценки Максимальное кратное число автоматического расчёта длины отбора в соответствии с измеренной длинной
Измерение
толщины пленки
Диапазон измерения В пределах 60 мкм
Точность измерения 2%H (H, измерение общей высоты, мкм)
Габариты оборудования (ДXШXВ) 800×450×1100 (мм)
Вес оборудования Около 220 кг
*1 Данный индекс точности является стандартом измерения стандартного шага.
*2 Данный индекс точности является стандартом точности измерительного блока.
*3 Данный индекс точности является стандартом испытания стандартной сферы и измерения дуги величиной более 90 градусов.
*4 Данный индекс точности является стандартом измерения углов многогранника.
*5 Данный индекс точности является стандартом измерения плоского кристалла.
*6 Два выбора диапазона датчика Z0: ±400 мкм и ±1000мкм. При выборе диапазона датчика Z0 ±400 мкм доступна дополнительная передача измерения шероховатости: ±50 мкм/±100 мкм/±400 мкм. При выборе диапазона датчика Z0 ±1000 мкм доступна дополнительная передача измерения шероховатости: ±50 мкм/±100 мкм/±500 мкм/± 1000 мкм.
*7 Данная точность шероховатости является стандартом измерения шероховатости поверхности сравнительных образцов в условиях калибровки сферы.
*8 Данный индекс повторяемости является стандартом тестирования с использованием образца шероховатости прямоугольной волны 0,1–0,2 мкм и стандартного ступенчатого блока.